服務(wù)熱線
86-0769-83110798
ACR 核磁共振系統(tǒng)成像性能檢定系統(tǒng)產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
對(duì)核磁共振設(shè)備進(jìn)行圖像性能質(zhì)量評(píng)估
ACR 核磁共振系統(tǒng)成像性能檢定系統(tǒng)技術(shù)參數(shù):
1. 外型尺寸：圓柱形，外徑200mm，壁厚5mm。
2. 磁共振影像檢測(cè)項(xiàng)目：幾何畸變率（空間線性），空間分辨率，掃描層厚精度，層厚，位置精度，層間距，評(píng)價(jià)圖像帶寬，低對(duì)比靈敏度，空間均勻性，信噪比（SNR），T1、T2 弛豫時(shí)間值測(cè)量，三維像素尺寸評(píng)估，樣本測(cè)試。
3. 兩個(gè)立方體用10 毫摩爾氯化鎳和植物脂肪。通過(guò)測(cè)量化學(xué)位移以測(cè)試帶寬。
4. 幾何精度，失真，偽影和距離的測(cè)量：10x10 方形網(wǎng)格陣列。
5. 兩組反向相對(duì)的45 度夾角的斜梯。用于精確測(cè)量物理和電子定義的層厚偏移量和評(píng)價(jià)層間的差距。
6. 低對(duì)比度探測(cè)力：四層測(cè)試盤, 厚度為0.05mm,0.1mm,0.15mm,0.20mm 與10 個(gè)直徑從1.5 到7.0mm 變化的小孔。
7. 層厚精度：相對(duì)反向遞減楔形梯。
8. 高對(duì)比度空間分辨率：3 組11mm 深的小孔矩陣。陣列中小孔直徑分別為1.1mm,1.0mm 和0.9mm。
標(biāo) 準(zhǔn)：
美國(guó)放射學(xué)院（ACR）磁共振成像成像（MRI）質(zhì)量保證委員會(huì)推薦
應(yīng)用范圍：
性價(jià)比ji高
預(yù)充核磁共振補(bǔ)充液，即得即用
提供中文版檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)指南
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
對(duì)核磁共振設(shè)備進(jìn)行圖像性能質(zhì)量評(píng)估
技術(shù)參數(shù):
1. 外型尺寸：圓柱形，外徑200mm，壁厚5mm。
2. 磁共振影像檢測(cè)項(xiàng)目：幾何畸變率（空間線性），空間分辨率，掃描層厚精度，層厚，位置精度，層間距，評(píng)價(jià)圖像帶寬，低對(duì)比靈敏度，空間均勻性，信噪比（SNR），T1、T2 弛豫時(shí)間值測(cè)量，三維像素尺寸評(píng)估，樣本測(cè)試。
3. 兩個(gè)立方體用10 毫摩爾氯化鎳和植物脂肪。通過(guò)測(cè)量化學(xué)位移以測(cè)試帶寬。
4. 幾何精度，失真，偽影和距離的測(cè)量：10x10 方形網(wǎng)格陣列。
5. 兩組反向相對(duì)的45 度夾角的斜梯。用于精確測(cè)量物理和電子定義的層厚偏移量和評(píng)價(jià)層間的差距。
6. 低對(duì)比度探測(cè)力：四層測(cè)試盤, 厚度為0.05mm,0.1mm,0.15mm,0.20mm 與10 個(gè)直徑從1.5 到7.0mm 變化的小孔。
7. 層厚精度：相對(duì)反向遞減楔形梯。
8. 高對(duì)比度空間分辨率：3 組11mm 深的小孔矩陣。陣列中小孔直徑分別為1.1mm,1.0mm 和0.9mm。
商品詳情：
核磁共振系統(tǒng)成像性能檢定系統(tǒng)
標(biāo)準(zhǔn)配置：ACR標(biāo)準(zhǔn)核磁共振檢測(cè)模型1只，ACR磁共振成像（MRI）質(zhì)量控制手冊(cè)-中文版 1本，標(biāo)準(zhǔn)箱1只